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LIVRO USADO
Estudo de Defeitos Em Dispositivos Semicondutores por Catodoluminescência
Ricardo Benetton Martins
Livro em Português (Brasil)
Editora: Unicamp
-
Conservação Bom
- Encadernação:Brochura
- Páginas:118
- Medidas:14 x 21
- Formato: Grande
- Peso:270g
- Catalogado por:Traça
- ID: 581063
- Data:23/03/2012
Conservação:
Bom.
Bom.
Etiqueta de Identificação na Contracapa.
Assuntos:
Estudo de Defeitos em Dispositivos Semicondutores por Catodoluminescência. ENGENHARIA. Ciência e Técnica. Observações:
Capas levemente gastas nas bordas. Encadernação com reforço. Miolo em bom estado.
Resenha:
A obra fala da utilização do microscópio cletiônico de varredura (MEV) na pesquisa de materiais semicondutores e de dispositivos semicondutores.O recente avanço da indústria de microeletrônica, e o consequente aumento de pesquisa nesta área ...
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